EinbrennkammerEine Einbrennkammer ist ein Umgebungsofen, der zur Bewertung der Zuverlässigkeit mehrerer Halbleiterbauelemente und zur Durchführung von Screenings mit hoher Kapazität auf vorzeitiges Versagen (Kindersterblichkeit) verwendet wird. Diese Klimakammern sind für das statische und dynamische Einbrennen von integrierten Schaltkreisen (ICs) und anderen elektronischen Geräten wie Laserdioden konzipiert.Auswahl der KammergrößeDie Kammergröße hängt von der Größe der Einbrennplatte, der Anzahl der Produkte in jeder Einbrennplatte und der Anzahl der Chargen ab, die pro Tag erforderlich sind, um die Produktionsanforderungen zu erfüllen. Wenn der Innenraum zu klein ist, führt ein unzureichender Abstand zwischen den Teilen zu einer schlechten Leistung. Ist es zu groß, werden Platz, Zeit und Energie verschwendet.Unternehmen, die eine neue Einbrennanlage kaufen, sollten mit dem Anbieter zusammenarbeiten, um sicherzustellen, dass die Wärmequelle über genügend stationäre und maximale Kapazität verfügt, um der Last des Prüflings gerecht zu werden.Bei Verwendung eines erzwungenen Umluftstroms profitieren die Teile vom Abstand, der Ofen kann jedoch vertikal dichter beladen werden, da der Luftstrom entlang der gesamten Seitenwand verteilt wird. Die Teile sollten 5,1–7,6 cm (2–3 Zoll) von den Ofenwänden entfernt sein.Designspezifikationen der EinbrennkammerTemperaturbereichWählen Sie abhängig von den Anforderungen des zu testenden Geräts (DUT) eine Kammer mit einem Dynamikbereich von 15 °C über Umgebungstemperatur bis 300 °C (572 °F).TemperaturgenauigkeitEs ist wichtig, dass die Temperatur nicht schwankt. Unter Gleichmäßigkeit versteht man den maximalen Unterschied zwischen der höchsten und der niedrigsten Temperatur in einer Kammer bei einer bestimmten Einstellung. Bei den meisten Halbleiter-Burn-in-Anwendungen ist eine Vorgabe von mindestens 1 % des Sollwerts für die Gleichmäßigkeit und einer Regelgenauigkeit von 1,0 °C akzeptabel.AuflösungEine Hochtemperaturauflösung von 0,1 °C bietet die beste Kontrolle zur Erfüllung der EinbrennanforderungenUmwelteinsparungenStellen Sie sich eine Einbrennkammer mit einem Kältemittel vor, dessen Ozonschicht-Abbaukoeffizient Null beträgt. Bei Einbrennkammern mit Kühlung handelt es sich um Kammern, die bei Temperaturen unter 0 Grad Celsius bis – 55°C betrieben werden.KammerkonfigurationDie Kammer kann mit Kartenkäfigen, Kartensteckplätzen und Zugangstüren ausgestattet werden, um den Anschluss von Prüflingsplatinen und Treiberplatinen an ATE-Stationen zu vereinfachen.KammerluftstromIn den meisten Fällen sorgt ein Umluftofen mit Umluftstrom für die beste Wärmeverteilung und beschleunigt die Temperatur- und Wärmeübertragungszeit auf die Teile erheblich. Die Gleichmäßigkeit und Leistung der Temperatur hängt von einem Ventilatordesign ab, das die Luft in alle Bereiche der Kammer leitet.Die Kammer kann mit horizontalem oder vertikalem Luftstrom ausgeführt werden. Es ist wichtig, die Einführrichtung des Prüflings anhand des Luftstroms in der Kammer zu kennen.Kundenspezifische ATE-VerkabelungWenn es darum geht, Hunderte von Geräten zu messen, ist das Einführen von Drähten durch eine Öffnung oder ein Testloch möglicherweise nicht praktikabel. Kundenspezifische Kabelanschlüsse können direkt am Ofen montiert werden, um die elektrische Überwachung des Geräts mit einem ATE zu erleichtern.Wie ein Einbrennofen die Temperatur regeltDer Einbrennofen verwendet einen Temperaturregler, der einen Standard-PID-Algorithmus (Proportional, Integral, Differential) ausführt. Der Regler misst den tatsächlichen Temperaturwert im Vergleich zum gewünschten Sollwert und gibt Korrektursignale an die Heizung aus, die eine Anwendung im Bereich von keiner bis hin zu voller Wärme erfordern. Außerdem wird ein Ventilator verwendet, um die Temperatur in der Kammer auszugleichen.Der am häufigsten zur genauen Temperaturregelung des Umgebungsofens verwendete Sensor ist ein Widerstandstemperaturdetektor (RTD), ein auf Platin basierendes Gerät, das üblicherweise als PT100 bezeichnet wird.Dimensionierung der KammerWenn Sie einen vorhandenen Ofen verwenden, können Sie anhand einer grundlegenden thermischen Modellierung auf der Grundlage von Faktoren wie der Wärmekapazität und -verlusten des Ofens, der Leistung der Wärmequelle und der Masse des Prüflings überprüfen, ob der Ofen und die Wärmequelle ausreichen, um die gewünschte Temperatur mit einem zu erreichen Die thermische Zeitkonstante ist kurz genug für eine enge Regelkreisreaktion unter der Steuerungssteuerung.
Hoch- und Niedertemperatur-Niederdruck-Testgeräte und schnelles DekompressionsgerätPrüfkammer für hohe und niedrige Temperaturen und niedrigen Druck：(1). Wichtigste technische Indikatoren1. Studiogröße: 1000T×1000B×1000H mm, die Innengröße beträgt etwa 1000L2. Außengröße: ca. 3400T×1400B×2010H mm, ohne Controller, Testloch und andere hervorstehende Teile.3. Temperaturbereich: -70℃ ~ +150℃4. Temperaturschwankung: ≤±0,5℃, Normaldruck, keine Last5. Temperaturabweichung: ±2℃, Normaldruck, keine Last6. Temperaturgleichmäßigkeit: ≤2℃, Atmosphärendruck, Leerlauf7. Heizrate: +20℃→+150℃≤60min8. Abkühlrate: +20℃→-65℃≤60min9. Luftfeuchtigkeitsbereich: Luftfeuchtigkeit 20 % ~ 98 % RH (Temperaturbereich +20℃ ~ +85℃)10. Luftfeuchtigkeitsabweichung: ≤+ 2–3 % RH (> 75 % RH), ≤ ± 5 % RH (≤ 75 % RH), unter normalen Druck- und Leerlaufbedingungen.11. Druckbereich: Normaldruck ~ 0,5 kPa12. Druckreduzierungsrate: Normaldruck ~ 1,0 kPa ≤ 30 Min13. Druckwiederherstellungsrate: ≤10,0 kPa/min14. Druckabweichung: Normaldruck ~ 40 kPa: ≤ ± 2 kPa, 40 kPa ~ 4 kPa: ≤ ± 5 % kPa, unter 4 kPa: ≤ ± 0,1 kPa15. Windgeschwindigkeit: Einstellung der Frequenzumwandlung16. Leistung: ca. 50 kW17. Lärm: ≤75 dB (A), 1 Meter von der Vorderseite der Kammer entfernt und 1,2 Meter über dem Boden.18. Gewicht: 1900 kg(2). Schnelldekompressionsgerät (optional)Um den Anforderungen einer schnellen Druckentlastung gerecht zu werden, wird eine unabhängige Schnellentlüftungskammer verarbeitet. Die Kammer zur schnellen Druckentlastung besteht aus einer Gehäusebaugruppe, einer Druckbaugruppe, einer Türbaugruppe, einer Schnittstelle und einem beweglichen Rahmen. Vor der schnellen Dekomprimierung muss der Benutzer eine externe Pipeline anschließen.1. Studiogröße: 400 mm tief x 500 mm breit x 600 mm lang; Das Innenwandmaterial wird mit 3,0 SUS304/2B verarbeitet und als Druckverstärkung wird ein 5-mm-Vierkantrohr verwendet.2. Außenmaße: 530 mm tief × 700 mm breit × 880 mm lang, das Außenwandmaterial besteht aus 1,2 mm kaltgewalztem Stahlblech, die Oberfläche ist weiß gesprüht (im Einklang mit der Farbe der Kammer);3. An der Oberseite des Behälters ist ein Drucksensoranschluss reserviert. Der Steuersensoranschluss befindet sich an der Rückseite des Containers, um die Verlegung des Schnellwechselgeräts zu erleichtern.4. Zur Erleichterung des schnellen Bewegens des Buck-Geräts. Installieren Sie vier Hubrollen unter dem Rahmen; Der bewegliche Rahmen ist aus gewöhnlichem Stahl geschweißt und auf die Oberfläche aufgesprüht.5. Schneller Dekompressionsprozess: Um die Pumpgeschwindigkeit der Kammer zur schnellen Druckentlastung zu verbessern, wird die Testkammer zunächst auf etwa 1 kPa gepumpt und das elektrische Ventil, das die Testkammerausrüstung und die Schnellreduziervorrichtung verbindet, wird geöffnet, um die Schnellreduzierfunktion zu realisieren , und das Ventil wird geschlossen, wenn es 18,8 kPa erreicht. Der konstante Druck in der Schnellentlastungskammer kann durch Hilfspumpen (Einlassventil) erreicht werden.(3). Produktimplementierungsstandards1. GB/T2423.1-2008 Test A: Niedertemperaturtest2. GB/T2423.2-2008 Test B: Niedertemperaturtest3. GB/T 2423.3-2006 Testkabine: Test bei konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit4. GB/T 2423.4-2008 Test Db: Wechselnder Temperatur- und Feuchtigkeitstest5. GB/T2423.21-2008 Test M: Niederdrucktestmethode6. GB/T2423.25-2008-Test Z/AM: Umfassender Test bei niedriger Temperatur/niedrigem Druck7. GB/T2423.26-2008 Test Z/BM: umfassender Hochtemperatur-/Niederdrucktest8. Allgemeine Anforderungen für GJB150.1-20099. GJB150.2A-2009 Niederdruck-(Höhen-)Test10. GJB150.3A-2009 Hochtemperaturtest11. GJB150.4A-2009 Tieftemperaturtest12. GJB150.6-86 Temperatur-Höhen-Test13. GJB150.19-86 Temperatur-Feuchtigkeit-Höhentest14. DO16F schneller Dekompressionstest15. Technische Bedingungen der Temperatur- und Feuchtigkeitsprüfkammer GB/T 10586-200616. Technische Bedingungen der Hochtemperatur-Niederdruckprüfkammer GB/T 10590-200617. Technischer Standard für Hoch- und Niedertemperaturprüfkammern GB/T 10592-200818. GB/T 5170.1-2008 Allgemeine Regeln für Inspektionsmethoden von Umwelttestgeräten für die Elektro- und Elektronikindustrie19. GB/T 5170.2-2008 Elektrische und elektronische Produkte, Umweltprüfgeräte, Prüfverfahren, Temperatur- und Feuchtigkeitsprüfgeräte20. GB/T 5170.5-2008 Elektrische und elektronische Produkte, Umweltprüfgeräte, Prüfverfahren, Temperatur- und FeuchtigkeitsprüfgeräteGB/T 5170.10-2008 Prüfgeräte für Umwelttests für elektrische und elektronische Produkte, Prüfverfahren für Hochtemperatur- und Niederdruckprüfgeräte
Einbrennplatine für ZuverlässigkeitstestsHalbleitergeräte, die frühe Ausfälle während der „Kindersterblichkeitsphase“ testen und aussortieren, werden auf einer Platine namens „Burn-in Board“ untergebracht. Auf einer Einbrennplatine gibt es mehrere Buchsen für die Platzierung des Halbleiterbauelements (z. B. Laserdiode oder Fotodiode). Die Anzahl der Geräte, die auf einer Platine platziert werden, kann von kleinen Chargen von 64 bis zu über 1000 Geräten gleichzeitig reichen.Diese Einbrennplatten werden dann in den Einbrennofen eingesetzt, der von einem ATE (Automatic Test Equipment) gesteuert werden kann, das die erforderlichen Spannungen an die Proben liefert und gleichzeitig die gewünschte Ofentemperatur aufrechterhält. Die angelegte elektrische Vorspannung kann entweder statisch oder dynamisch sein.Normalerweise werden die Halbleiterkomponenten (z. B. Laserdioden) über das hinaus beansprucht, was sie im normalen Gebrauch aushalten müssen. Dadurch wird sichergestellt, dass der Hersteller sicher sein kann, dass er über ein robustes Laserdioden- oder Fotodiodengerät verfügt und dass die Komponente Zuverlässigkeits- und Qualifikationsstandards erfüllen kann. Materialoptionen für Einbrennplatten:IS410IS410 ist ein Hochleistungs-FR-4-Epoxidlaminat- und Prepreg-System, das entwickelt wurde, um den Anforderungen der Leiterplattenindustrie nach höherer Zuverlässigkeit und dem Trend zur Verwendung von bleifreiem Lot gerecht zu werden.370 Stunden370HR-Laminate und Prepregs werden unter Verwendung eines patentierten, hochleistungsfähigen multifunktionalen Epoxidharzsystems FR-4 mit 180 °C Tg hergestellt, das für mehrschichtige Leiterplattenanwendungen (PWB) entwickelt wurde, bei denen maximale thermische Leistung und Zuverlässigkeit erforderlich sind.BT EpoxidharzBT-Epoxidharz wird aufgrund seiner hervorragenden thermischen, mechanischen und elektrischen Eigenschaften häufig ausgewählt. Dieses Laminat ist für die bleifreie Leiterplattenbestückung geeignet. Es wird hauptsächlich für Mehrschichtplatinenanwendungen verwendet. Es zeichnet sich durch hervorragende Elektromigration, Isolationsbeständigkeit und hohe Wärmebeständigkeit aus. Es behält auch die Haftfestigkeit bei hohen Temperaturen bei.PolymidBT-Epoxidharz wird aufgrund seiner hervorragenden thermischen, mechanischen und elektrischen Eigenschaften häufig ausgewählt. Dieses Laminat ist für die bleifreie Leiterplattenbestückung geeignet. Es wird hauptsächlich für Mehrschichtplatinenanwendungen verwendet. Es zeichnet sich durch hervorragende Elektromigration, Isolationsbeständigkeit und hohe Wärmebeständigkeit aus. Es behält auch die Haftfestigkeit bei hohen Temperaturen bei.Nelco 4000-13Die Nelco® N4000-13-Serie ist ein verbessertes Epoxidharzsystem, das sowohl hervorragende thermische Eigenschaften als auch eine hohe Signalgeschwindigkeit und einen geringen Signalverlust bietet. N4000-13 SI® eignet sich hervorragend für Anwendungen, die optimale Signalintegrität und präzise Impedanzkontrolle erfordern und gleichzeitig eine hohe Zuverlässigkeit durch CAF 2 und thermischen Widerstand gewährleisten. Dicke der Einbrennplatte:0,062 Zoll – 0,125 Zoll (1,57 mm – 3,17 mm) Anwendungen für Einbrennplatinen:Während des Einbrennvorgangs herrschen extreme Temperaturen, die oft zwischen 125 °C und 250 °C oder sogar 300 °C liegen. Daher müssen die verwendeten Materialien äußerst langlebig sein. IS410 wird für Einbrennplatinenanwendungen bis 155 °C verwendet und typischerweise ein Polyimid für Anwendungen bis 250 °C. Einbrennplatinen können unter Umwelttestbedingungen verwendet werden, wie zum Beispiel:HAST (Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress)LTOL (Low Temperature Operating Life)HTOL (Hochtemperatur-Betriebsdauer) Anforderungen an das Design der Einbrennplatine:Eine der wichtigsten Überlegungen ist die Auswahl der größtmöglichen Zuverlässigkeit und Qualität für das Burn-in-Board und den Testsockel. Sie möchten nicht, dass Ihr Burn-in-Board oder -Sockel vor dem zu testenden Gerät ausfällt. Daher sollten alle aktiven/passiven Komponenten und Anschlüsse den Hochtemperaturanforderungen entsprechen und alle Materialien und Komponenten sollten den Hochtemperatur- und Alterungsanforderungen genügen.
Was sind Umwelttests?Die elektronischen Geräte und Industrieprodukte, auf die wir uns täglich verlassen, werden auf vielfältige Weise von der Umwelt beeinflusst, darunter Temperatur, Luftfeuchtigkeit, Druck, Licht, elektromagnetische Wellen und Vibrationen. Umwelttests analysieren und bewerten die Auswirkungen dieser Umweltfaktoren auf das Produkt, um dessen Haltbarkeit und Zuverlässigkeit zu bestimmen.Guangdong Lab Companion LTD., verfügt über ein Grundkapital von 10 Millionen Yuan und 3 F&E-Produktionsstätten in Dongguan, Kunshan und Chongqing. Lab Companion ist seit 19 Jahren auf Hoch- und Tieftemperatur-Testgerätetechnologie spezialisiert und arbeitet nach den vier Systemen ISO9001, ISO14001, ISO 45001, ISO27001 und richtet Vertriebs- und Wartungsservicezentren in Shanghai, Wuhan, Chengdu, Chongqing, Xi'an und anderen ein Hongkong. Wir arbeiten eng mit der International Organization of Legal Metrology, der Chinese Academy of Sciences, State Grid, China Southern Power Grid, der Tsinghua University, der Peking University, der Hong Kong University of Science and Technology und anderen Forschungseinrichtungen zusammen.Zu den Hauptprodukten von Lab Companion gehören: Prüfkammer für hohe und niedrige Temperaturen, Testkammer für konstante Temperatur und Luftfeuchtigkeit, Testkammer für schnelle Temperaturwechsel, Thermoschock-Testkammer, Testkammer für hohe und niedrige Temperaturen und niedrigen Druck, Vibration der Gesamtkammer, Industrieofen, Vakuumofen, Stickstoffofen usw., die qualitativ hochwertige Experimente ermöglichen Ausrüstung für Universitäten, Forschungsinstitute, medizinische Gesundheit, Inspektion und Quarantäne, Umweltüberwachung, Lebensmittel und Medikamente, Automobilherstellung, Petrochemie, Gummi- und Kunststoffprodukte, IC-Halbleiter, IT-Herstellung und andere Bereiche.
Ist die Zukunft der Halbleiter rosig?Dank des Aufkommens des Konzepts „5G+ Internet of Everything“ und der rasanten Entwicklung neuer Energiefahrzeuge ist die Nachfrage nach Chips umfassend gestiegen. Und aufgrund der Auswirkungen der Epidemie und der Handelskonflikte zwischen China und den USA wurde die Versorgung mit Chips beeinträchtigt, sodass der Inlandsmarkt unter diesen Faktoren florieren wird. Das Folgende ist ein konzeptionelles Diagramm der Halbleiterindustriekette:Es ist intuitiv zu erkennen, dass die Halbleiterindustrie eine sehr große Industriekette ist und der Endverbraucher untrennbar mit unserem Leben verbunden ist. Es handelt sich im Wesentlichen um Chips aus Siliziumwafern. Das Folgende ist das Flussdiagramm der Chipproduktion:Wie in der Abbildung oben zu sehen ist, ist der Alterungstest des Chips ein wesentlicher Bestandteil, und für den Alterungstest des Chips muss ein professioneller Industrieofen für den Alterungstest und das Hochtemperaturbacken verwendet werden. Der Alterungstest führte nicht nur zur Entwicklung von Industrieöfen, sondern auch zur Entwicklung von Waffelboxen, automatischen Legemaschinen, Bandflechtmaschinen und anderen Geräten. Allein dieser Prozess hat eine so große Industrie, was zeigt, dass die Zukunft der Halbleiter noch relativ optimistisch ist.
Hochtemperatur-AlterungsschrankBei einem Hochtemperatur-Alterungsschrank handelt es sich um eine Art Alterungsgerät, mit dem vorzeitige Ausfälle nicht konformer Produktteile behoben werden.Einsatz Temperatur-Alterungsschrank, Alterungsofen:Das Prüfgeräte ist ein Testgerät für die Luftfahrt, Automobilindustrie, Haushaltsgeräte, wissenschaftliche Forschung und andere Bereiche, das zum Testen und Bestimmen der Parameter und Leistung von elektrischen, elektronischen und anderen Produkten und Materialien nach Temperaturänderungen in der Umgebung bei hohen Temperaturen, niedrigen Temperaturen und Wechseln verwendet wird zwischen Temperatur und Luftfeuchtigkeit oder konstante Temperatur und Luftfeuchtigkeit.Die Kammer des Testgeräts wird nach der Behandlung mit Stahlblech besprüht, und die Sprühfarbe ist optional, im Allgemeinen beige. Im Innenraum wird SUS304-Spiegel-Edelstahl mit einem großen Fenster aus gehärtetem Glas verwendet, um interne Alterungsprodukte in Echtzeit zu beobachten.Merkmale des Temperaturalterungsschranks, Alterungsofens:1. Touchscreen-Programmierkombinationssteuerung für die SPS-Verarbeitungsindustrie, ausgewogenes Temperaturkontrollsystem: Anstieg der Raumtemperatur der alternden Probe, Starten des Lüftungsventilators, Ausgleich der Probenwärme, Alterungsschrank ist in Produktbereich und Ladebereich unterteilt2. PID+SSR-Temperaturregelungssystem: Entsprechend der Temperaturänderung im Probenkasten wird die Wärme des Heizrohrs automatisch angepasst, um das Temperaturgleichgewicht zu erreichen, sodass die Heizwärme des Systems seinem Wärmeverlust entspricht und erreicht wird die Temperaturausgleichskontrolle, damit es über einen langen Zeitraum stabil laufen kann; Die Schwankung der Temperaturregelung beträgt weniger als ±0,5℃3. Das Lufttransportsystem besteht aus einem dreiphasigen asynchronen elektronischen Mehrflügel-Windrad und einer Windtrommel. Der Winddruck ist groß, die Windgeschwindigkeit ist gleichmäßig und die Gleichmäßigkeit jedes Temperaturpunkts ist gewährleistet4. Hochpräziser PT100-Platinwiderstand für die Temperaturerfassung, hohe Genauigkeit für die Temperaturerfassung5. Laststeuerung: Das Laststeuerungssystem bietet EIN/AUS-Steuerung und Zeitsteuerung, zwei Funktionsoptionen, um den unterschiedlichen Testanforderungen des Produkts gerecht zu werden(1) Einführung in die EIN/AUS-Funktion: Die Schaltzeit, Stoppzeit und Zykluszeiten können eingestellt werden, das Testprodukt kann entsprechend den Einstellungsanforderungen des Systems umgeschaltet werden, die Stoppzyklussteuerung, die Alterungszyklusnummer erreicht den eingestellten Wert Wenn Sie den Wert einstellen, ertönt automatisch eine Ton- und Lichtmeldung(2) Zeitsteuerungsfunktion: Das System kann die Laufzeit des Testprodukts einstellen. Wenn die Last startet, beginnt das Netzteil des Produkts mit der Zeitmessung. Wenn die tatsächliche Zeit die vom System eingestellte Zeit erreicht, wird die Stromversorgung des Produkts unterbrochen6. Sicherheit und Stabilität des Systembetriebs: Verwendung eines SPS-Industrie-Touchscreen-Steuerungssystems, stabiler Betrieb, starke Entstörung, bequeme Programmänderung, einfache Leitung. Perfektes Alarmschutzgerät (siehe Schutzmodus), Echtzeitüberwachung des Betriebsstatus des Systems, mit der Funktion der automatischen Aufrechterhaltung der Temperaturdaten während des Betriebs, um die historischen Temperaturdaten abzufragen, wenn das Produkt altert, die Daten kann zur Analyse über die USB-Schnittstelle auf den Computer kopiert werden (Format ist EXCEL), mit Funktion zur Anzeige historischer Datenkurven. Es spiegelt intuitiv die Temperaturänderung im Produktbereich während des Produkttests wider und seine Kurve kann auf den Computer kopiert werden BMP-Format über die USB-Schnittstelle, um dem Bediener dies zu erleichtern Erstellen Sie den Testproduktbericht. Das System verfügt über die Funktion der Fehlerabfrage. Das System zeichnet die Alarmsituation automatisch auf. Wenn das Gerät ausfällt, zeigt die Software automatisch den Alarmbildschirm an, um an die Fehlerursache und deren Lösung zu erinnern. Unterbrechen Sie die Stromversorgung des Testprodukts, um die Sicherheit des Testprodukts und des Geräts selbst zu gewährleisten, und notieren Sie die Fehlersituation und den Zeitpunkt des Auftretens für zukünftige Wartungsarbeiten.
Thermozyklischer Test (TC) und Thermoschocktest (TS)Thermozyklischer Test (TC):Im Lebenszyklus des Produkts kann es verschiedenen Umgebungsbedingungen ausgesetzt sein, die dazu führen, dass das Produkt an gefährdeten Stellen erscheint, was zu Produktschäden oder -ausfällen führt und dann die Zuverlässigkeit des Produkts beeinträchtigt. Es werden eine Reihe von Hoch- und Tieftemperatur-Wechseltests zur Temperaturänderung mit einer Temperaturschwankungsrate von 5 bis 15 Grad pro Minute durchgeführt, was keine echte Simulation der tatsächlichen Situation darstellt. Sein Zweck besteht darin, Spannungen auf das Teststück auszuüben und den Alterungsfaktor des Teststücks zu beschleunigen, so dass das Teststück unter Umwelteinflüssen Schäden an der Systemausrüstung und den Komponenten verursachen kann, um festzustellen, ob das Teststück korrekt konstruiert ist oder hergestellt. Häufige sind:Elektrische Funktion des ProduktsDas Schmiermittel verschlechtert sich und verliert seine SchmierfähigkeitVerlust der mechanischen Festigkeit, was zu Rissen und Rissen führtDie Verschlechterung des Materials führt zu chemischen Einwirkungen Anwendungsbereich:Simulationstest der Modul-/SystemproduktumgebungModul-/SystemproduktkonflikttestPCB/PCBA/Lötstellen-beschleunigter Stresstest (ALT/AST)... Thermoschocktest (TS):Im Lebenszyklus des Produkts kann es verschiedenen Umgebungsbedingungen ausgesetzt sein, die dazu führen, dass das Produkt an gefährdeten Stellen erscheint, was zu Produktschäden oder -ausfällen führt und dann die Zuverlässigkeit des Produkts beeinträchtigt. Schocktests bei hohen und niedrigen Temperaturen unter extrem rauen Bedingungen bei schnellen Temperaturänderungen mit einer Temperaturschwankung von 40 Grad pro Minute werden nicht wirklich simuliert. Sein Zweck besteht darin, starke Belastungen auf das Teststück auszuüben, um den Alterungsfaktor des Teststücks zu beschleunigen, so dass das Teststück unter Umwelteinflüssen potenzielle Schäden an der Systemausrüstung und den Komponenten verursachen kann, um festzustellen, ob das Teststück korrekt ist entworfen oder hergestellt. Häufige sind:Elektrische Funktion des ProduktsDie Produktstruktur wird beschädigt oder die Festigkeit verringertZinnrisse an BauteilenDie Verschlechterung des Materials führt zu chemischen EinwirkungenBeschädigung der Dichtung Maschinenspezifikationen:Temperaturbereich: -60 °C bis +150 °CErholungszeit: < 5 MinutenInnenmaße: 370*350*330mm (T×B×H) Anwendungsbereich:Beschleunigungstest der PCB-ZuverlässigkeitBeschleunigter Lebensdauertest des elektrischen FahrzeugmodulsBeschleunigter Test von LED-Teilen... Auswirkungen von Temperaturänderungen auf Produkte:Die Überzugsschicht der Komponenten fällt ab, die Vergussmaterialien und Dichtungsmassen reißen, sogar die Dichtungsschale reißt und die Füllmaterialien treten aus, was zu einer Verschlechterung der elektrischen Leistung der Komponenten führt.Bei Produkten, die aus unterschiedlichen Materialien bestehen, wird das Produkt bei Temperaturänderungen nicht gleichmäßig erhitzt, was zu Produktverformungen, Rissen in den Dichtungsprodukten sowie zu Glas- oder Glaswaren- und Optikschäden führt.Der große Temperaturunterschied führt dazu, dass die Oberfläche des Produkts bei niedrigen Temperaturen kondensiert oder gefriert, bei hohen Temperaturen verdunstet oder schmilzt, und das Ergebnis einer solchen wiederholten Einwirkung führt zu einer Korrosion des Produkts und beschleunigt diese. Umweltauswirkungen von Temperaturänderungen:Zerbrochenes Glas und optische Geräte.Der bewegliche Teil sitzt fest oder ist locker.Struktur schafft Trennung.Elektrische Änderungen.Elektrischer oder mechanischer Fehler aufgrund schneller Kondensation oder Gefrieren.Bruch in körniger oder streifenförmiger Form.Unterschiedliche Schrumpfungs- oder Ausdehnungseigenschaften verschiedener Materialien.Das Bauteil ist deformiert oder gebrochen.Risse in Oberflächenbeschichtungen.Luftleck im Sicherheitsbehälter.
Halbleiter-Chip-Auto-Messgerät-ChipEin Fahrzeug mit neuer Energie ist in mehrere Systeme unterteilt. Die MCU gehört zum Körpersteuerungs- und Fahrzeugsystem und ist eines der wichtigsten Systeme.MCU-Chips sind in 5 Ebenen unterteilt: Verbraucher, Industrie, Fahrzeuganzeige, QJ, GJ. Unter ihnen ist der Auto-Messchip das aktuelle Flügelprodukt. Was bedeutet also der Auto-Instrumenten-Chip? Aus dem Namen geht hervor, dass es sich bei dem Fahrzeugmesschip um den Chip handelt, der im Auto verwendet wird. Anders als bei gewöhnlichen Verbraucher- und Industriechips ist die Zuverlässigkeit und Stabilität des Kfz-Messchips äußerst wichtig, um die Sicherheit des Fahrzeugs bei der Arbeit zu gewährleisten.Der Zertifizierungsstandard des Fahrzeugmesschips ist AEC-Q100, der vier Temperaturstufen enthält. Je kleiner die Zahl, desto höher die Stufe, desto höher die Anforderungen an den Chip.Gerade weil die Anforderungen an den Kfz-Messchip so hoch sind, ist es notwendig, vor der Fabrik einen strengen Burn-In-Test durchzuführen. Der BI-Test erfordert die Verwendung eines professionellen BI-Ofens, unser BI-Ofen kann den heutigen BI-Test bestehen Auto-Messchip.Verbinden Sie das EMS-System, sodass jede Charge gebackener Chips jederzeit zurückverfolgt werden kann. Anaerobe Vakuumumgebung mit hoher und niedriger Temperatur, Echtzeitüberwachung der Backkurve, um Backsicherheit und -wirkung zu gewährleisten.
Vibrationsüberprüfung der Funktionalität (VVF)Durch die während des Transports erzeugten Vibrationen sind Frachtkartons anfällig für komplexe dynamische Drücke und die erzeugte Resonanzreaktion ist heftig, was zu Verpackungs- oder Produktfehlern führen kann. Durch die Ermittlung der kritischen Frequenz und der Art des Drucks auf die Verpackung wird dieser Fehler minimiert. Bei der Vibrationsprüfung handelt es sich um die Beurteilung der Vibrationsfestigkeit von Bauteilen, Bauteilen und kompletten Maschinen in der zu erwartenden Transport-, Installations- und Einsatzumgebung.Gängige Vibrationsmodi können in Sinusvibrationen und Zufallsvibrationen unterteilt werden. Sinusvibration ist eine im Labor häufig verwendete Testmethode, die hauptsächlich die durch Rotation, Pulsation und Oszillation erzeugte Vibration sowie die Resonanzfrequenzanalyse und die Überprüfung des Resonanzpunktaufenthalts der Produktstruktur simuliert. Sie ist in Wobbelfrequenzvibrationen und Festfrequenzvibrationen unterteilt und ihre Schwere hängt vom Frequenzbereich, dem Amplitudenwert und der Testdauer ab. Zufällige Vibrationen werden verwendet, um die gesamte strukturelle seismische Festigkeitsbewertung des Produkts und der Versandumgebung im verpackten Zustand zu simulieren, wobei der Schweregrad vom Frequenzbereich, dem GRMS, der Testdauer und der axialen Ausrichtung abhängt.Vibrationen können nicht nur die Lampenkomponenten lockern, so dass die interne relative Verschiebung zu Entschweißen, schlechtem Kontakt und schlechter Arbeitsleistung führt, sondern auch dazu führen, dass die Komponenten Lärm, Verschleiß, physisches Versagen und sogar Komponentenermüdung verursachen.Zu diesem Zweck hat Lab Companion einen professionellen „LED-Lampen-Vibrationstest“ ins Leben gerufen, um die Vibrationen oder mechanischen Stöße zu simulieren, die in der tatsächlichen Transport-, Installations- und Nutzungsumgebung der Lampe auftreten können, und um die Vibrationsfestigkeit und Stabilität der LED-Lampe zu bewerten der zugehörigen Leistungsindikatoren und finden Sie das schwache Glied, das zu Schäden oder Ausfällen führen kann. Verbessern Sie die Gesamtzuverlässigkeit von LED-Produkten und verbessern Sie den Ausfallstatus der Branche aufgrund von Transport oder anderen mechanischen Stößen.Servicekunden: LED-Beleuchtungsfabrik, Beleuchtungsagenten, Beleuchtungshändler, DekorationsunternehmenTestmethode:1, die LED-Lampen-Probenverpackung auf dem Vibrationsprüfstand platziert;2, die Vibrationsgeschwindigkeit des Vibrationstesters ist auf 300 U/min eingestellt, die Amplitude ist auf 2,54 cm eingestellt, starten Sie den Vibrationsmesser;3, die Lampe gemäß der oben genannten Methode in den drei Richtungen oben und unten, links und rechts, vorne und hinten jeweils 30 Minuten lang testen.Ergebnisauswertung: Nach dem Vibrationstest können an der Lampe keine herunterfallenden Teile, strukturelle Schäden, Beleuchtung und andere ungewöhnliche Phänomene auftreten.
Double 85 Zuverlässigkeits-Umwelttest bei konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit (THB)Zuerst Hochtemperatur- und FeuchtigkeitstestWHTOL (Wet High Temperature Operating Life) ist ein üblicher Umweltbelastungsbeschleunigungstest, normalerweise 85 °C und 85 % relative Luftfeuchtigkeit, der im Allgemeinen gemäß der Norm IEC 60068-2-67-2019 durchgeführt wird. Die Testbedingungen sind in der Tabelle dargestellt.Zweitens das Testprinzip„Doppelter 85-Test“ ist einer der Zuverlässigkeits-Umwelttests, der hauptsächlich für Boxen mit konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit verwendet wird, d Alterung des Testprodukts. Obwohl der Testprozess einfach ist, ist der Test eine wichtige Methode zur Bewertung vieler Eigenschaften des Testprodukts und hat sich daher in verschiedenen Branchen zu einer unverzichtbaren Zuverlässigkeits- und Umwelttestbedingung entwickelt.Vergleichen Sie nach der Alterung des Produkts bei 85 °C/85 % relativer Luftfeuchtigkeit die Leistungsänderungen des Produkts vor und nach der Alterung, z. B. die photoelektrischen Leistungsparameter der Lampe, die mechanischen Eigenschaften des Materials, den Gelbindex usw. Je kleiner der Unterschied, desto besser, um die Hitze- und Feuchtigkeitsbeständigkeit des Produkts zu testen.Beim Betrieb in einer Umgebung mit kontinuierlich hohen Temperaturen kann es zu einem thermischen Ausfall des Produkts kommen, und einige feuchtigkeitsempfindliche Geräte versagen in einer Umgebung mit hoher Luftfeuchtigkeit. Der Dual-85-Test kann die thermische Belastung testen, die das Produkt bei hoher Luftfeuchtigkeit erzeugt, und seine Fähigkeit, einem langfristigen Eindringen von Feuchtigkeit zu widerstehen. Beispielsweise ist der häufige Ausfall verschiedener Produkte in der feuchten Wetterperiode im Süden hauptsächlich auf die schlechte Temperatur- und Feuchtigkeitsbeständigkeit der Produkte zurückzuführen.3. Experimentelle FaktorenIn der LED-Beleuchtungsindustrie haben viele Hersteller die Double-85-Testergebnisse als wichtiges Mittel zur Beurteilung der Qualität von Lampen genutzt. Verschiedene mögliche Gründe, warum LED-Lampen den Dual-85-Test nicht bestehen, sind:1. Lampenstromversorgung: schlechte Hitzebeständigkeit des Gehäuses, Gefahr eines Kurzschlusses im Stromkreis, Ausfall des Schutzmechanismus usw.2. Lampenstruktur: unangemessenes Design des Wärmeableitungskörpers, Installationsprobleme, Materialien sind nicht beständig gegen hohe Temperaturen.3. Lampenlichtquelle: schlechte Feuchtigkeitsbeständigkeit, Alterung des Verpackungsklebers, hohe Temperaturbeständigkeit.Wenn Sie auf eine besondere Einsatzumgebung stoßen, z. B. wenn die Temperatur in der Arbeitsumgebung hoch ist, müssen Sie die Beständigkeit gegen hohe und niedrige Temperaturen testen. Die Testmethode kann sich auf das Testprojekt für hohe und niedrige Temperaturen beziehen.4. Kunden bedienen01. KundengruppeLED-Beleuchtungsfabrik, LED-Kraftwerk, LED-Verpackungsfabrik02. NachweismittelPrüfkammer für konstante Temperatur und Luftfeuchtigkeit03. ReferenzstandardsTests bei konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit für elektrische und elektronische Produkte – Umweltprüfungen – Teil 2: Testmethoden – Testkabine: Test bei konstanter Temperatur und Luftfeuchtigkeit GB/T 2423.3-2006.04. Serviceinhalte4.1 Beachten Sie die Norm, führen Sie einen doppelten 85-Test für das Produkt durch und stellen Sie den Testergebnisbericht des Dritten bereit.4.2 Bereitstellung der Analyse und des Verbesserungsplans des Produkts durch den Double 85-Test.
EinbrennofenBurn-in ist ein elektrischer Stresstest, bei dem Spannung und Temperatur eingesetzt werden, um den elektrischen Ausfall eines Geräts zu beschleunigen. Das Einbrennen simuliert im Wesentlichen die Betriebslebensdauer des Geräts, da die während des Einbrennens angelegte elektrische Erregung die ungünstigste Vorspannung widerspiegeln kann, der das Gerät im Laufe seiner Nutzungsdauer ausgesetzt sein wird. Abhängig von der verwendeten Einbrenndauer können sich die erhaltenen Zuverlässigkeitsinformationen auf die frühe Lebensdauer oder den Verschleiß des Geräts beziehen. Das Einbrennen kann als Zuverlässigkeitsüberwachung oder als Produktionsscreening verwendet werden, um potenzielle Kindersterblichkeit aus der Charge herauszufiltern.Das Einbrennen erfolgt normalerweise bei 125 °C, wobei die Proben elektrisch angeregt werden. Der Einbrennvorgang wird durch die Verwendung von Einbrennplatten (siehe Abb. 1) erleichtert, auf die die Proben geladen werden. Diese Einbrennplatten werden dann in den Einbrennofen eingesetzt (siehe Abb. 2), der die Proben mit den erforderlichen Spannungen versorgt und gleichzeitig die Ofentemperatur bei 125 °C hält. Die angelegte elektrische Vorspannung kann entweder statisch oder dynamisch sein. abhängig vom beschleunigten Ausfallmechanismus.Abbildung 1. Foto von unbestückten und mit Sockeln bestückten EinbrennplatinenDie Betriebslebenszyklusverteilung einer Gerätepopulation kann als Badewannenkurve modelliert werden, wenn die Ausfälle auf der y-Achse gegen die Betriebslebensdauer auf der x-Achse aufgetragen werden. Die Badewannenkurve zeigt, dass die höchsten Ausfallraten bei einer Gerätepopulation in der frühen Phase des Lebenszyklus bzw. der frühen Lebensdauer sowie in der Abnutzungsphase des Lebenszyklus auftreten. Zwischen der frühen Lebensdauer und der Abnutzungsphase liegt ein langer Zeitraum, in dem die Geräte nur sehr selten ausfallen. Abbildung 2. EinbrennöfenWie der Name schon sagt, wird der ELF-Monitor (Early Life Failure) zur Überwachung potenzieller Frühversagen durchgeführt. Die Dauer beträgt höchstens 168 Stunden, normalerweise jedoch nur 48 Stunden. Elektrische Ausfälle nach dem Einbrennen des ELF-Monitors werden als Frühausfälle oder Kindersterblichkeit bezeichnet, was bedeutet, dass diese Geräte vorzeitig ausfallen, wenn sie im normalen Betrieb verwendet werden.Der HTOL-Test (High Temperature Operating Life) ist das Gegenteil des ELF-Monitor-Einbrennens und testet die Zuverlässigkeit der Proben in ihrer Abnutzungsphase. HTOL wird für eine Dauer von 1000 Stunden durchgeführt, mit Zwischenmesspunkten bei 168 H und 500 H. Obwohl die an die Proben angelegte elektrische Anregung oft durch Spannungen definiert wird, werden durch Strom (wie Elektromigration) und elektrische Felder (wie dielektrischer Bruch) beschleunigte Fehlermechanismen verständlicherweise auch durch Einbrennen beschleunigt.
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