Testkammer mit stabiler Temperatur

• Zuverlässigkeitstest für Leuchtdioden für die Kommunikation

  Oct 09, 2024

  Zuverlässigkeitstest für Leuchtdioden für die KommunikationFeststellung des Ausfalls der Kommunikations-Leuchtdiode:Stellen Sie einen festen Strom bereit, um die optische Ausgangsleistung zu vergleichen und den Fehler zu ermitteln, wenn der Fehler größer als 10 % ist.Mechanischer Stabilitätstest:Schlagtest: 5 Takte/Achse, 1500 G, 0,5 msVibrationstest: 20 G, 20 ~ 2000 Hz, 4 Min./Zyklus, 4 Zyklen/AchseThermoschocktest für Flüssigkeiten: 100℃(15 Sek.)←→0℃(5 Sek.)/5 ZyklenLötwärmebeständigkeit: 260℃/10 Sekunden/1 MalLothaftung: 250℃/5 SekundenHaltbarkeitstest:Beschleunigter Alterungstest: 85℃/Leistung (maximale Nennleistung)/5000 Stunden, 10000 StundenHochtemperaturlagerung: maximale Nennlagertemperatur /2000 StundenLagerungstest bei niedrigen Temperaturen: maximale Nennlagertemperatur /2000 StundenTemperaturzyklustest: -40℃(30min)←85℃(30min), RAMP: 10/min, 500ZyklenFeuchtigkeitsbeständigkeitstest: 40℃/95%/56 Tage, 85℃/85%/2000 Stunden, VersiegelungszeitScreening-Test für Kommunikationsdiodenelemente:Temperatur-Screening-Test: 85 °C/Leistung (maximale Nennleistung)/96 Stunden Screening-Fehlerbestimmung: Vergleichen Sie die optische Ausgangsleistung mit dem festen Strom und ermitteln Sie den Fehler, wenn der Fehler größer als 10 % ist.Screening-Test für Kommunikationsdiodenmodule:Schritt 1: Überprüfung des Temperaturzyklus: -40℃(30min)←→85℃(30min), RAMP: 10/min, 20 Zyklen, keine StromversorgungSchritt 2: Temperatur-Screening-Test: 85 °C/Leistung (maximale Nennleistung)/96 Stunden   

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