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Halbleiter-Chip-Testgeräte von Lab Companion

HAST
Stark beschleunigte Temperatur und Luftfeuchtigkeit Stresstest
uHAST
Unvoreingenommener HAST
HTSL/Backen
Haltbarkeit bei hohen Temperaturen
LTSL
Lagerfähigkeit bei niedrigen Temperaturen
TC
Temperaturwechsel
TS
Thermoschock
THB/85/85
Temperatur Luftfeuchtigkeit Blas
TH(THS/THC)
Temperatur Luftfeuchtigkeit