GUANGDONG LABCOMPANION Ltd. durch ein neues Patent im Bereich Halbleiterprüfung mit Hoch-Niedrigtemperatur-Prüfkammer.

Dongguan, China – 2. April 2025 –Laborbegleiter, ein führender Innovator im Bereich Umweltprüflösungen, hat ein bahnbrechendes Patent für seine fortschrittliche Hoch-Tieftemperatur-Testkammer erhalten Entwickelt für die Erkennung von Halbleiterchips. Das am 1. April 2025 von der chinesischen Nationalen Behörde für geistiges Eigentum offiziell erteilte Patent (Patentnummer ZL 2024 1 1290322.4) stellt einen wichtigen Meilenstein im Engagement des Unternehmens für Präzision und Zuverlässigkeit bei industriellen Tests dar.

Revolutionierung der Halbleiterprüfung

Die neu patentierte Technologie stellt ein hochmodernes System dar, das Halbleiterchips mit beispielloser Präzision extremen Temperaturschwankungen aussetzen kann. Diese Innovation adressiert kritische Herausforderungen in der Halbleiterindustrie, wo präzise thermische Tests unerlässlich sind, um die Haltbarkeit und Leistung der Chips unter unterschiedlichen Betriebsbedingungen sicherzustellen.

Standardparameter für Umwelttests von Halbleiterchips

1. Temperaturprüfung

Temperaturbereich:

Betriebsbereich: 40 °C bis +125 °C (üblich für Chips in Industriequalität)

- Erweiterter Bereich: -65 °C bis +150 °C (für Militär-/Luftfahrtanwendungen)

- Thermisches Radfahren:

- Änderungsrate: 5°C/min bis 20°C/min (je nach Teststandard)

- Verweilzeit: 10–30 Minuten bei extremen Temperaturen (zur Stabilisierung der Bedingungen)

Zyklen: 100–1.000 Zyklen (gemäß JEDEC, MIL STD oder AEC Q100)

2. Feuchtigkeitsprüfung

Relative Luftfeuchtigkeit (RH): 85 % –95 % RH

- Temperatur: 85 °C (üblicherweise verwendet bei „85/85“-Tests zur beschleunigten Alterung)

- Dauer: 500–1.000 Stunden (gemäß JESD22-A101)

3. Thermoschockprüfung

- Temperaturextreme: -55°C bis +125°C (gemäß MIL-STD-883G Methode 1011)

- Übergangszeit: <1 Minute (Flüssigkeit-zu-Flüssigkeit) oder <5 Minuten (Luft-Luft)

Zyklen: 50–500 Zyklen

4. Vibration und mechanische Beanspruchung

Frequenzbereich: 5 Hz–2 kHz (gemäß MIL STD 883)

-Beschleunigung: 5–20 G (je nach Anwendung)

5. Andere kritische Standards

- JEDEC-Standards (z. B. JESD22-A104 für Temperaturwechsel)

- AEC-Q100: Chip-Qualifizierung für die Automobilindustrie

- MIL-STD-883: Zuverlässigkeitstests für Militär/Verteidigung

- IEC 60068: Allgemeine Richtlinien für Umweltprüfungen

Diese Parameter stellen sicher, dass Halbleiterchips die Industrieanforderungen an die Leistung unter extremen Bedingungen erfüllen. Die spezifischen Werte können je nach Anwendung (z. B. Unterhaltungselektronik vs. Automobil) variieren.

Hinweis: Genaue Testprotokolle finden Sie immer in der neuesten Version der relevanten Standards (JEDEC, AEC, MIL-STD usw.).

Unsere optimierten Testparameter übertreffen traditionelle Standards in drei entscheidenden Punkten. Erstens haben wir den Temperaturbereich auf -70 °C bis +175 °C erweitert – deutlich mehr als die üblichen -40 °C bis +125 °C –, um den Anforderungen von Leistungselektronik und Luft- und Raumfahrtanwendungen gerecht zu werden. Zweitens haben wir die Temperaturwechselraten auf 30 °C/min beschleunigt, wodurch sich die Testzeit bei gleichbleibender Präzision im Gegensatz zum herkömmlichen Ansatz von 5–20 °C/min halbiert. Drittens haben wir mehrachsige Vibrationen (bis zu 50 G) mit extremen Thermoschocks (-65 °C ↔ +175 °C in weniger als 30 Sekunden) integriert – eine Kombination, die in älteren Standards wie JEDEC oder MIL-STD selten berücksichtigt wird. Diese Upgrades testen Chips nicht nur, sondern machen sie auch zukunftssicher“, sagte der CEO.

„Dieses Patent unterstreicht unser Engagement, die Grenzen der Testtechnologie zu erweitern“, sagte ein Sprecher von LabCompanion.Unsere Hoch- und Tieftemperatur-Testkammer steigert nicht nur die Effizienz, sondern setzt auch einen neuen Standard für Zuverlässigkeit in der Halbleiter-Qualitätskontrolle.

Hauptmerkmale und Vorteile

- Präzisionssteuerung: Das Gerät bietet eine präzise Temperaturregelung und ermöglicht so strenge Tests unter einer breiten Palette thermischer Bedingungen.

Verbesserte Haltbarkeit: Das System ist darauf ausgelegt, wiederholten thermischen Zyklen standzuhalten und gewährleistet so langfristige Stabilität und Genauigkeit.

Benutzerfreundliche Bedienung: Die zugehörige Methodik vereinfacht komplexe Testverfahren und macht sie für industrielle Anwendungen zugänglich.

Als Vorreiter in der Umweltprüfkammertechnologie kombinieren wir kontinuierliche Innovation mit Marktkenntnissen, um fortschrittliche Prüflösungen für jede Branche zu entwickeln. Wir haben uns durch außergewöhnliche Qualität und Service bewährt und sind motiviert, täglich Grenzen zu überschreiten.

Weitere Informationen zu Temperaturprüfgeräten finden Sie unter [Hoch- und Niedertemperaturprüfkammer] .