Anforderungen für generische Zuverlässigkeitssicherung für optoelektronische Geräte, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden

Anforderungen für generische Zuverlässigkeitssicherung für optoelektronische Geräte, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden

Dokumentnummer GR-468
Ausgabe Nummer 02
Ausgabedatum September 2004
Ersetzt TR-NWT-000468 Ausgabe01

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ABSTRAKT: Optoelektronische Geräte sind das Rückgrat der optischen Faserindustrie. Diese Geräte umfassen Laser, leichte Dioden, Fotometektoren und Modulatoren und sind Schlüsselkomponenten, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden, wie z. B.:

• Asynchronen und synchronen Glasfaseranschluss- und Add-Drop-Multiplexer
• Digitale Cross-Connect-Systeme
• Optische Verstärker
• Universelle oder integrierte digitale Kreuzungssysteme
• Faser-in-the-Loop-Systeme.
In diesem Dokument von NEBS (Network Equipment-Building System) wird die Telkordienansicht der vorgeschlagenen Praktiken für generische Zuverlässigkeitssicherung für die meisten optoelektronischen Geräte vorgestellt, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden.

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In Forschungs- und Entwicklungskosten. In diesem Dokument wird der zuverlässige Betrieb optoelektronischer Geräte gewährleistet und die Lebenszykluskosten Ihres Unternehmens minimiert. GR-468 kann angezogen werden, um andere aktive optoelektronische Geräte abzudecken, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden.

Zu den wichtigsten Änderungen in Ausgabe 2 gehören:
• Kriterien im Zusammenhang mit Qualifikationstests, Zuverlässigkeit oder beschleunigten Alterungstests und Lot-to-Lot-Kontrollen wurden konsolidiert, um Gemeinsamkeiten und Unterschiede zwischen den Tests und Verfahren hervorzuheben, die für verschiedene Geräte und Ebenen von Geräten gelten.
• Ein erweiterter Umfang des Dokuments und überarbeitete Definitionen der Geräteebene
• Neues Material, das auf abstimmbare Laser und optoelektronische Empfänger hinzugefügt wird
• Entfernen von Zielen, die spezifische Leistungsparameter angaben, und verschiedene Tabellen, die diese Parameter auflisteten, konsolidierten in einer einzigen Tabelle.
• Ein definierter Satz von operativen Schock- und Vibrationsbedingungen.
Bei Verwendung von GR-468 müssen Sie sich möglicherweise beziehen

GR-63

,

GR-78

,

GR-326

,

GR-357

,

GR-418

,

GR-487

, GR-874,

GR-909

,

GR-1221

, GR-1252,

GR-1312

,

GR-2882

,

SR-332

,

TR-NWT-000870

,

TR-NWT-000930

,

GR-3160

und/oder verschiedene Publikationen der IEC, Mil-Std und Ita/EIA FOTP-Serie.

GR-468-CORE ersetzt TR-NWT-000468 und TA-NWT-000983. (Manchmal als "Telkordien -Technologien 983" auf anderen externen Websites bezeichnet).

Ausgabe 2 von GR-468,

Anforderungen für generische Zuverlässigkeitssicherung für optoelektronische Geräte, die in Telekommunikationsgeräten verwendet werden

ersetzt Ausgabe 1.

Komponenten dieses Produkts sind:

7.6HYBRIDS. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7–5 Anhang A: Stichprobenplantabellen Anhang B: Referenzen Anhang C: Symbole, Einheiten, Abkürzungen und Akronyme Anforderung-Objekt Index GR-468-CORE Ausgabe 2 September 2004 Zuverlässigkeitssicherung für optoelektronische Geräte Liste der Abbildungsliste Abbildung 1 Abbildung 1 -1 Abbildung 1-2 Abbildung 1-3 Abbildung 3-1 Abbildung 3-2 Abbildung 3-3 Abbildung 3-4 Abbildung 3-5 Abbildung 3-6 Abbildung 3-7 Abbildung 3-8 Abbildung 3-9 Elemente eines umfassenden Zuverlässigkeitsprogramms. . . 1–3 Beispiele für optoelektronische Gerätemoduldesigns. . . . . . . . 1–10 Schema eines gemeinsamen Lasermoduldesigns. . . . . . . . . . . 1–11 Beispiel für zwei Fehlermechanismen mit unterschiedlichen Aktivierungsenergien. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–6 Beispiel eines MLM -Laser -optischen Spektrums. . . . . . . . . . . . 3–9 Beispiel für L-I- und DL/DI-Kurven mit einem Knick. . . . . . . . . . . . 3–19 Beispielmaske für einen hohen Bit-Rate-Signal-Augenmuster-Test. . . . . 3–22 Aufstiegs- und Fallzeitdefinitionen. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–23 Messung der Einschaltverzögerung. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–25 Messung des Laser -Farfeldmusters. . . . . . . . . . . . . . . . . 3–27 Beispiel für räumliche Homogenitätstestergebnisse. . . . . . . . . . . . 3–33 Beispiel für die Ergebnisse der Linearitätstest von Fotodetektor. . . . . . . . . . 3–34 XI GR-468-CORE-Zuverlässigkeit für optoelektronische Geräte Liste der Tabellen Ausgabe 2 September 2004 Liste der Tabellen Tabelle 1-1 Tabelle 2-1 Tabelle 3-1 Tabelle 3-2 Tabelle 4-2 Tabelle 4-2 Tabelle 4 -3 Tabelle 4-4 Tabelle 4-5 Tabelle 4-6 Tabelle 5-1 Tabelle 7-1 Tabelle A-1 Tabelle A-2 Tabelle A-3 Tabelle A-4 Definition der Qualitätsniveaus. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1–14 vorläufige Verwendung von Geräten in der Qualifikation. . . . . . . . . . . . . 2–7 nahm Aktivierungsenergien an. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3–5 Beispielformat zur Berichterstellungsinformationen für die Ausfallrate. . . . . . 3–61 Typische Leistungsparameter für die Charakterisierung der optoelektronischen Geräte. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–3 physikalische Eigenschaften von Geräten. . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–8 mechanische Integritätstests. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–10 nicht betriebene Umweltbelastungstests. . . . . . . . . . . . . . 4–12 Powered Environmental Stresstests. . . . . . . . . . . . . . . . . 4–13 Betriebsschock- und Vibrationsbedingungen für integrierte Module. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4–18 Beschleunigte Alterungstests. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5–2 physikalische Eigenschaften und Stresstests für TECs. . . . . . . . . 7–3 LTPD -Stichprobenplan1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . A - 1 Beispielgröße Code Buchstaben 1 (allgemeine Inspektionsstufen). . . . . . A - 2 Einzelstichprobenplan für die normale Inspektion (Mastertabelle). . . . A - 2 Doppelprobenahmplan für die normale Inspektion (Mastertabelle). . . A - 3 xii